В рамках
проекта "Развитие иноязычной
компетенции студентов ТГУ" первокурсники радиофизического факультета
посетили Лабораторию кафедр полупроводниковой электроники и физики
полупроводников радиофизического и физического факультетов. Руководитель
лаборатории - кандидат физ.-мат. наук, доцент Новиков Вадим Александрович. Экскурсию проводил магистрант кафедры полупроводниковой
электроники Санал Мармаков.
Санал
продемонстрировал один из современных приборов для исследования структуры и
свойств поверхности тел – атомно - силовой микроскоп (АСМ). Микроминиатюризация
исполнительных элементов современной электроники предъявляет высокие требования
к однородности материалов и качеству их исследования. В настоящее время
практически ни одно исследование в области физики поверхности и тонкопленочных
технологий не обходится без применения методов сканирующей зондовой микроскопии
(СЗМ), в частности АСМ. Благодаря АСМ появляются новые открытия и идеи в
изучении поверхности объектов.
Организатор мероприятия - ст. преподаватель каф. английского языка
естественнонаучных и физико-математических факультетов О.В. Харапудченко.
